日本電子製：JEE-4X
　用途：電子顕微鏡試料で導電性のないもの
　　　　に、金属やカーボンを試料表面に真
　　　　空蒸着しサンプルに導電性を持たせる。
　設置場所：６号館１階　IMA室

　日本電子製：JEE-400
　用途：電子顕微鏡試料で導電性のないもの
　　　　に、金属やカーボンを試料表面に真
　　　　空蒸着しサンプルに導電性を持たせる。
　設置場所：６号館１階　EPMA室

　ライカ製：REICHERA ULTRACUT S
　用途：生体試料をを薄くスライスし、透過
　　　　電子顕微鏡で見やすくする。
　設置場所：13号館1階　横田研究室

　日本電子製：JUC-5000
　用途：電子顕微鏡試料で導電性のないもの
　　　　に、金属を試料表面にスパッタしサ
　　　　ンプルに導電性を持たせる。
　設置場所：20号館2階　HR-SEM室

　日本電子製：JFD-300
　用途：電子顕微鏡で導電性のない生体試料
　　　　を臨界点乾燥法により、試料の変形
　　　　なしに観察できるようにする。
　設置場所：20号館2階　HR-SEM室

　設置場所：20号館２階　HR-SEM室

　用途：SEM像観察のチャージング防止
　　　　　電極作成、金マスキングなど