X線構造解析装置
概 要
 R-AXIS IVは、単結晶からのX線回折データを迅速に測定するシステムです。また、単結晶の構造解析用装置としてだけでなく、高空間分解能の2次元検出器として、多目的に利用できます。300×300mmの大型IPに対応しており、従来の4軸型X線回折計では測定が難しかった微小結晶や不安定化合物の結晶からのX線回折データの収集が可能になりました。
 システムに付属したコンピュータプログラムを利用することにより、最適な測定条件をシュミレーションすることが可能であり、良質な単結晶が得られれば、ほぼ全自動でX線結晶構造解析に必要なデータの収集が可能です。
 本システムは、吹付け試料低温装置により、-180℃までの低温測定が可能です。
性能 特徴

R-AXIS X線構造解析装置
  理学製 RAXIS-IV
   X線出力最大12kW
   300×300mm大型イメージングプレート搭載
   読取り分解能100μm
   試料吹付低温・高温装置

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