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自主研究プログラム2024Free-theme 2024

写真1

2025.03.06
走査型電子顕微鏡の原理説明

拡 大

写真2

サンプルメージ

2025.03.06
走査型電子顕微鏡による観察

拡 大

SEM画像

サンプルメージ

2025.03.06
隕石表面のSEM画像(倍率:250倍)

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概要

テーマ:隕石の微細構造の観察と構造成分の分析

申請者:物理学科 山本 茉由

ご協力:化学科   佐藤先生
    基礎理学科 新原先生

【趣旨】
隕石を用いて走査型電子顕微鏡で観察を行い、その微細構造を観察する。
また、隕石の構成成分をエネルギー分散型X線分析装置を用いて分析する。

テーマ終了:《 レポートを見る 》
サンプルメージ









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