全自動多目的Ｘ線回析装置
概 要Outline
本装置は、従来の粉末試料の結晶構造分析のみならず、多様化する分析ニーズ（ナノ構造、残留応力、薄膜、組織配向分布等）にも適用できる全自動多目的Ｘ線回折装置である。粉末X線回折測定では、高出力のＸ線源と高感度の多次元半導体検出器を用いることで、従来の装置に比べて質の高い回折パターンを取得でき、高精度の結晶構造解析が可能である。また、本装置では、試料台に様々なアタッチメントを設置できる特徴を有しており、ナノ構造（小角散乱測定）や薄膜の膜厚・面内構造（薄膜X線回折・逆格子マッピング・in-plane・反射率の各測定）、構造材料の残留応力（応力測定）、金属複合材料の組織配向分布（極点測定）等の多様なニーズに対応したＸ線測定を行うことができる。加えて、測定オプションとして、粉末X線回折の高温測定や微小領域での回折測定も可能である。
性 能Performane
| 名称（略称） | 全自動多目的Ｘ線回析装置（SmartLab） |
| 型番（メーカー） | SmartLab （リガク） |
| Ｘ線源 | 回転対陰極型管球（PhotoMax、最大9kW） |
| 検出器 | 多次元半導体検出器（HyPix-3000、0～2次元） |
| 設置場所 | Ａ３号館２階④室 |
| 機器責任者 | 化学科 佐藤恭史 |
| お問い合わせ | お問い合わせフォームより24時間受付中です お電話による問合わせ：直086-256-8473 内3242 |
